光束线

实验站

研究内容

实验技术

能量范围

用光模式

1W1A

漫散射实验站

晶体材料

薄膜、多层膜

纳米材料

X射线共面衍射／散射

X射线掠入射衍射／散射

X射线反射率／非镜面散射

X射线掠入射小角散射

8.05keV，13.9 keV

专用、兼用

1W1B

XAFS实验站

材料科学、纳米科学、生物医学、环境科学、化学化工、能源催化、人文考古

透射XAFS

荧光XAFS

4-23keV

专用、兼用

1W2A

小角散射实验站

纳米材料、介孔材料、生物大分子、高聚物等

常规小角X射线散射（SAXS）

广角X射线散射（WAXS）

掠入射小角X射线散射（GISAXS）

时间分辨小角X射线散射（T-SAXS）

专用、兼用

1W2B

生物大分子实验站

生物大分子

反常散射（MAD/SAD）

同晶置换（MIR/SIR）

分子置换（MR）

XAFS

专用、兼用

3W1A

生物大分子实验站

生物大分子

反常散射（MAD/SAD）

同晶置换（MIR/SIR）

分子置换（MR）

6-18keV

专用

3B1

光刻、LIGA实验站

MEMS电泳芯片、金属光栅、热压模具、加速度计微结构、火花电极、金属微孔、微质谱仪金属结构、金属镂空模版、精密微金属结构系统等

LIGA技术（SU8技术）

硅刻蚀技术

纳米岛光刻技术

光刻：0.5-1keV

LIGA：2-10keV

专用

4W1A

X射线成像站

晶体材料、生物医学材料、复合材料

晶体形貌

相位衬度成像

5-20keV

专用

4W1B

X射线荧光微分析实验站

地质矿产、生物医学、环境科学、材料科学、人文考古、法学鉴定

XRF

微区XRF

微区XAFS

准单色光聚焦模式 8-15keV

单色光聚焦模式5-18.5keV

专用

4W2

高压实验站

晶体结构相变

物质状态方程

专用

4B8

真空紫外实验站

生物大分子、发光材料

同步辐射圆二色谱（SRCD)、荧光光谱和吸收谱等真空紫外光谱

120－350nm

专用、兼用

4B7A

中能实验站

探测器标定、环境科学、农业、材料科学

光学剂量标准测定

XAFS

Si(111)：2050eV-5700 eV

InSb（111）：1750eV-3400eV

专用、兼用

4B7B

软X光实验站

探测器标定、光学原件测试、计量标准、光谱学

光学剂量标准测定

XAFS

50eV-1700eV

专用、兼用

4B9A

衍射站

材料科学、纳米科学、催化能源、生物科学

X射线衍射(XRD)

X射线反射率（XRR）

小角散射(SAXS)

衍射异常精细结构（DAFS）

XAFS

4-15keV

专用、兼用

4B9B

光电子能谱实验站

材料

同步辐射角积分光电子能谱（SRPES）、同步辐射角分辨光电子能谱（ARPES）、高能电子衍射（RHEED）、低能电子衍射（LEED）、常规X射线光电子能谱（XPS）等

10 -1000       eV

专用、兼用