第15届国际X射线吸收精细结构谱学会议
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发布时间:2011-10-18
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第15届国际X射线吸收精细结构谱学会议(XAFS15)将于2012年7月22-28日在北京召开。本届会议将涵盖与XAFS相关的各种技术和研究内容。 会议具体信息请参考会议网址http://www.xafs15.org/。
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