第10届 X射线显微术国际会议（XRM2010）
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发布时间:2010-06-28
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第10届际X射线显微术国际会议（XRM2010）将于2010年8月15日至20日在美国芝加哥举行，会议将以X射线高分辨成像技术的优点和在科学领域的应用为主题展开讨论。详细信息请见http://xrm2010.aps.anl.gov/。
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