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光束线站--北京同步辐射装置
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光束线站



    光束线站 研究内容 实验技术 光斑参数 线站状态
    1W1A-漫散射实验站 晶体材料薄膜、多层膜纳米材料 X射线共面衍射／散射
    X射线掠入射衍射／散射
    X射线反射率／非镜面散射
    X射线掠入射小角散射     		能量范围：8.05 keV(不可调)
    能量分辨率（△E/E）<4.4×10-4 @ 8.05 keV
    样品处光子通量（phs/s）>1×1011 @ 8.05 keV
    样品处光斑尺寸：1(H)×0.4(V) mm2     		正常运行
    1W1B-XAFS实验站 材料科学、纳米科学、生物医学、环境科学、化学化工、能源催化、人文考古 透射XAFS
    荧光XAFS     		能量范围：4-23 keV
    能量分辨率（△E/E）<1-3×10-4 @ 9 keV
    样品处光子通量（phs/s）>4×1011 @ 9 keV，2.5 GeV, 200 mA
    样品处光斑尺寸： 0.9(H)×0.3(V)mm2     		正常运行
    1W2A-小角散射实验站 纳米材料、介孔材料、生物大分子、高聚物等 透射小角X射线散射（SAXS）、
    广角X射线散射（WAXS）、
    SAXS - WAXS同时测量；
    掠入射SAXS、WAXS     		小角散射分辨率：200 nm
    角分辨率：0.5 mrad
    入射X射线波长1.54 Å
    能量分辨率（△E/E）～1×10-3
    样品处光子通量（phs/s） ≥1×1011
    样品至探测器距离：0.5～5.0 m 分级可调
    探测器上光斑尺寸：1.4 × 0.2 mm2
    光束发散度 ≤0.6 mrad     		停止运行
    1W2B-综合实验站 多方法实验技术的发展、常规吸收谱学、基于高性能探测器的方法学研究 XAFS、激光pump - X光probe时间分辨实验、XAFS/XRD联用实验、SAXS/WAXS/XAFS联用实验 能量范围：5-18 keV
    能量分辨率(△E/E)优于4×10-4
    样品处光子通量(phs/s)：1012
    样品处光斑尺寸： 1(H)×0.6(V) mm2     		正常运行
    3W1-高能实验站 高能X射线设备和技术验证，高能X射线应用研究 成像（白光&单色光）
    高能动态衍射PDF     		能量范围：40-80 keV 白光
    能量分辨率(△E/E)～0.16% @ 50 keV
    样品处光子通量(phs/s)：6.54×1010 @ 50 keV 2.56×1013 @ 白光
    样品处光斑尺寸：3×3 mm2 @ 50 keV 9.37×2.47 mm2 @ 白光     		停止运行
    1B3-光刻、LIGA实验站 X射线光学元件研制，如光栅，折射透镜等 纳米光刻
    深度X射线光刻     		样品处为白光，光斑水平宽度55毫米，样品台在竖直方向扫描曝光。其中纳米光刻光源能量在1-3 keV，X射线深度光刻光源能量在3-12 keV，光通量大于1015phs/s 正常运行
    4W1A-X射线成像站 晶体材料、生物医学材料、复合材料、能源材料等 晶体形貌
    微米相位衬度成像
    纳米全场成像     		微米成像：
    能量范围：6 - 26 keV
    样品处光子通量(phs/s)～1012 @ 8 keV
    空间分辨率为～10 μm、～5 μm、～1 μm时，光斑尺寸（H×V）分别为20 mm×10 mm，10 mm×5 mm，2 mm×1 mm
    纳米成像：
    能量范围：6-10 keV
    样品处光子通量(phs/s)～108 @ 8 keV
    空间分辨率为30 nm、50 nm、100 nm时，光斑尺寸（H×V）分别为10 μm×10 μm，15 μm×15 μm，65 μm×65 μm     		正常运行
    4W1B-X射线荧光微分析实验站 物理、催化、生物医学、环境科学、材料科学、人文考古、法学鉴定 XRF
    微区XRF
    XES(发射谱)     		实验模式：粉光聚焦模式
    能量范围：5-18 keV
    能量分辨率（△E/E）<5.5×10-4
    样品处光子通量(phs/s)：>1×1010 @ 15 keV
    样品处光斑尺寸：50(H)×50(V) μm2
    XRF检测限：1 ppm     		正常运行
    4W2-高压实验站 高温/低温高压下物性研究 高压粉末XRD
    高压单晶XRD
    高压径向XRD     		能量范围：10-25 keV（单色光）
    能量分辨率（△E/E）：7×10-4 @ 20 keV
    样品处光子通量(phs/s)：1.2×109 @ 20 keV
    样品处光斑尺寸：33×12 μm2     		停止运行
    4B8-真空紫外实验站 荧光粉、闪烁体等发光材料 荧光光谱和吸收谱等真空紫外光谱 波长范围：130-360 nm
    样品处光子通量(phs/s)：2×109 @ 180 nm
    样品处光斑尺寸：2(H)×1(V) mm2     		停止运行
    4B7A-中能实验站 能源环境、材料、化学、生物科学等领域；探测器标定、光学元件表征、X射线辐射计量标准 X射线吸收谱（XAS）； X射线光学计量标准测定、X射线探测器标准传递和标定、光学元件的透射比、反射率或者衍射效率标定 能量范围：Si(111)：2100-5700 eV InSb(111)：1750-3400 eV
    能量分辨率（△E/E）～7000
    样品处光子通量(phs/s)：～1x1011 @ S K-edge
    样品处光斑尺寸：5×3 mm2     		正常运行
    4B7B-软X光实验站 能源环境、材料、化学等科学领域；探测器标定、光学元件表征、X射线计量标准 近边X射线吸收谱（XANES）；X射线光学计量标准测定、X射线探测器标准传递和标定、光学元件的透射比及反射率标定； 能量范围：50-1700 eV
    能量分辨率（△E/E）～1000
    样品处光子通量(phs/s)>1×1010 @ Fe L-edge
    样品处光斑尺寸：1×0.5 mm2（焦点处）、大至10×5 mm2（离焦）     		正常运行
    4B9A-衍射站 材料科学、纳米科学、催化能源、生物科学 X射线吸收精细结构（XAFS）
    X射线衍射(XRD)
    X射线反射率（XRR）
    衍射异常精细结构（DAFS）     		能量范围：5-13 keV
    能量分辨率（△E/E）：3×10-4
    样品处光子通量(phs/s)：1×1010 @ 8 keV
    样品处光斑尺寸：2(H)×1(V) mm2
    角分辨率：0.9角秒     		停止运行
    4B9B-光电子能谱实验站 材料科学、催化能源、电子结构研究 同步辐射光电子能谱（SRPES）、角分辨光电子能谱（ARPES）、软X射线吸收谱（NEXAFS） 波长范围： 130-360 nm
    样品处光子通量(phs/s)：2×109 @ 180 nm
    样品处光斑尺寸：2(H)×1(V) mm2     		停止运行
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